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数字智能型电路板特征 电子、通讯、IT领域较为关键的产品组成部分,承担着承上启下的桥梁作用。它点缀在现代生活的每个亮点。智能电路板以较可靠的微小空间高速联通电路信息，智能优化每一款电路产品方正智能电路板以前沿的技术和较精良的设备，为的电子厂商提供优质可靠，低碳环保的产品，并为客户提供一站式的产品服务。
更新时间：2025-03-06 厂商性质：生产厂家 访问量：3180
| 品牌 | 环路 | 产地 | 国产 |
|---|---|---|---|
| 加工定制 | 否 |
一.带程序的芯片
1.芯片一般不宜损坏.因这种芯片需要紫外光才能擦除掉程序, 故在测试中不会损坏程
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序.但有资料介绍:因制作芯片的材料所致,随着时间的推移(年头长了),即便不用也有可能损坏(主要指程序).所以要 尽可能给以备份.
2.EEPROM,SPROM等以及带电池的RAM芯片,均极易破坏程序.这类芯片 是否在使用<测试仪>进行VI曲线扫描后,是否就破坏了程序,还未有定论.尽管如此,同仁们在遇到这种情况时,还是小心为妙.笔者曾经做过 多次试验,可能大的原因是:检修工具(如测试仪,电烙铁等)的外壳漏电 所致.
3.对于电路板上带有电池的芯片不要轻易将其从板上拆下来.
数字智能型电路板特征
二.复位电路
1.待修电路板上有大规模集成电路时,应注意复位问题.
2.在测试前装回设备上,反复开,关机器试一试.以及多按几次复位键.
三.功能与参数测试
1.<测试仪>对器件的检测,仅能反应出截止区,放大区和饱和区.但不 能测出工作频率的高低和速度的快慢等具
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体数值等.
2.同理对TTL数字芯片而言,也只能知道有高低电平的输出变化.而无 法查出它的上升与下降沿的速度.
四.晶体振荡器
1.通常只能用示波器(晶振需加电)或频率计测试,万用表等无法测量, 否则只能采用代换法了.
2.晶振常见故障有:a.内部漏电,b.内部开路c.变质频偏d.外围相连电 容漏电.这里漏电现象,用<测试仪>的VI曲线应能测出.
3.整板测试时可采用两种判断方法:a.测试时晶振附近既周围的有关 芯片不通过.b.除晶振外没找到其它故障点.
4.晶振常见有2种:a.两脚.b.四脚,其中第2脚是加电源的,注意不可随 意短路.五.故障现象的分布
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